一种高温反偏老化测试方法、系统、终端及介质

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一种高温反偏老化测试方法、系统、终端及介质
申请号:CN202411701709
申请日期:2024-11-26
公开号:CN119471287A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本申请涉及高温反偏老化测试技术的领域,尤其是涉及一种高温反偏老化测试方法、系统、终端及介质,其获取测试指令;依据测试指令获取待测试器件的产品信息;基于待测试器件的产品信息获取测试时长、测试环境以及对应的测试电压;基于测试时间、测试环境以及对应的测试电压对待测试器件开始测试并获取测试结果;若测试结果不符合高温老化标准条件,输出警告信息。本申请能提高测试的精度以及可靠性。
技术关键词
老化测试方法 测试器件 人机交互界面显示 曲线特征 电压 老化测试技术 老化测试系统 指令模块 信息模块 测试模块 处理器 智能终端 参数 可读存储介质 存储器 电阻
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