芯片电压裕度测试方法、装置和系统

本申请提供一种芯片电压裕度测试方法、装置和系统，在电源模块的输出电压为标准电压的基础上，控制电源模块在标准电压的基础上依次按照不同的偏移得到不同的测试电压。控制电源模块依次输出各个测试电压至待测芯片，并在各测试电压下控制待测芯片执行测试操作。基于待测芯片在各测试电压下的测试操作结果，判断待测芯片是否满足预设电压裕度要求。本方案中，通过调整电源模块输出的测试电压以对待测芯片进行测试，可以实现对电压波动敏感、低压或高压等条件下不满足要求的芯片进行筛选，保障出厂芯片的质量。