数据一致性校验方法、装置、电子设备、介质及产品

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数据一致性校验方法、装置、电子设备、介质及产品
申请号:CN202411710694
申请日期:2024-11-26
公开号:CN119719081A
公开日期:2025-03-28
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种数据一致性校验方法、装置、电子设备、介质及产品。该方法包括:获取源数据库数据对象的内置函数,根据内置函数得到内置函数的参数列表;根据参数列表的参数值类型,获取参数列表的参数类型取值范围;根据参数类型取值范围,采用随机采样算法得到参数类型取值范围内的参数值;根据参数值得到第一结构化查询验证语句;将第一结构化查询验证语句发送至目标数据库端执行验证,得到验证结果。本申请的方案能够提升数据一致性校验结果的准确性。
技术关键词
语句 计算机执行指令 参数 数据一致性校验 列表 电子设备 明文 可读存储介质 样本 算法 计算机程序产品 数据迁移 对象 序列 处理器通信 采样模块 存储器
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