一种基于追踪RFID标签的制造全流程监管方法及系统

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一种基于追踪RFID标签的制造全流程监管方法及系统
申请号:CN202411718509
申请日期:2024-11-28
公开号:CN119204615B
公开日期:2025-03-07
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于追踪RFID标签的制造全流程监管方法及系统,涉及制造全流程监管领域,包括:采集生产信息,获取工艺顺序信息;根据工艺顺序信息,生成待处理产品,得出操作流程熟练度评级;在待处理产品上设置RFID标签;获取待处理产品当前工序信息,得到待测工艺顺序信息,获取实时产品余量,建立目标函数;获取合格产品的工艺顺序信息,记为标准工艺顺序信息;将待测工艺顺序信息和标准工艺顺序信息进行比较,获取工艺顺序异常数据;分析工艺顺序异常数据对应产品的RFID标签信息,得到异常工艺流程信息;根据异常工艺流程信息,获取异常因素;对异常因素进行权重赋值;将异常因素权重值与目标函数结合,生成规划模型。
技术关键词
混合整数线性规划模型 监管方法 RFID标签信息 异常数据 产线 信息识别设备 信息读取设备 信息存储模块 中间件 数据分析模块 矩阵 密钥 员工 生成产品 监管系统
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