基于多源测试融合的芯片引线键合可靠性检测方法及系统

本发明提供一种基于多源测试融合的芯片引线键合可靠性检测方法及系统，通过获取芯片多源测试图像，加载到目标引线键合可靠性检测网络进行图像识别，获得可靠性检测结果，目标引线键合可靠性检测网络为依据第一训练误差和第二训练误差对预设深度神经网络进行调校获得，第一训练误差为图像描述子训练误差和缺陷推理训练误差中的一个或多个，图像描述子训练误差用于指示同样的缺陷类型区域在训练图像描述子对应的图像语义描述子之间的误差，缺陷推理训练误差用于指示同样的缺陷类型区域在训练图像缺陷推理结果中对应的引线键合缺陷推理结果之间的误差。基于本申请可以增加网络对同样缺陷类型区域的识别统一性，提高缺陷融合识别的普适性和鲁棒性。