芯片过热自动保护控制方法及系统

本发明提供一种芯片过热自动保护控制方法及系统，涉及芯片保护技术领域，包括在芯片上布置分布式温度传感器，获取芯片内部不同区域的实时温度数据，动态调整数据收集的频率和精度，生成优化后的温度数据流；将优化后的温度数据流输入预先训练好的温度异常检测模型中，实时检测芯片内各区域的温度异常情况，并输出异常区域的温度异常等级，根据温度异常等级触发不同强度的热应急处理，并将异常区域的温度和功耗信息发送至全局管理器；生成初始芯片保护策略，同时对芯片未来温度变化趋势进行预测，识别潜在高温异常区域，结合预测结果对初始芯片保护策略进行优化，生成最优芯片保护策略，根据最优芯片保护策略实现芯片过热自动保护控制。