一种基于人工神经网络的集成电路扫描链诊断方法及系统

本发明公开了一种基于人工神经网络的集成电路扫描链诊断方法及系统，该方法首先为集成电路扫描链中的每个扫描触发器注入随机的stuck at‑0和stuck at‑1两种故障，其中通过线性反馈移位寄存器生成为随机数得到故障的随机周期；然后执行自动测试向量生成，得到包含故障信息的pattern报告和对应的仿真日志；最后通过pattern报告和仿真日志得到整数故障向量和标签向量，将整数故障向量和标签向量输入到人工神经网络中进行训练和验证，通过训练好的人工神经网络预测得到集成电路扫描链中的故障位置。本发明生成随机周期故障，剔除异常数据，使用人工神经网络模型，有效减少人为误判和漏检的风险，实现精准预测。