一种GaN集成功率芯片抛负载测试系统及方法

本发明涉及电力电子技术领域，更具体地，涉及一种GaN集成功率芯片抛负载测试系统及方法，其中系统包括：测试模块：对GaN集成功率芯片进行电学特性测量；应力模块：用于施加应力，模拟GaN集成功率芯片在实际工况下的工作环境和应力条件；电源模块：通过连接双脉冲动态导通电阻测试装置，为其供电；控制模块：通过连接双脉冲动态导通电阻测试装置，为其提供双脉冲信号。示波器模块：监测GaN集成功率芯片的电学特性。本发明然后通过应力模块以及电源模块对GaN集成功率芯片施加应力。从而检测GaN集成功率芯片在不同工作模式下的性能，进而探索GaN集成功率芯片的内部串扰对电学性能的影响。