一种充电管理芯片的批量测试方法

本发明涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种充电管理芯片的批量测试方法，包括：当多颗充电管理芯片在测试板上的多个测试工位放置完成后，发送开始测试信号；其中，每个测试工位对应一颗充电管理芯片及其外围器件；当测试机接收到所述开始测试信号后，对所述测试板上的多颗充电管理芯片进行批量测试，以得到多颗充电管理芯片的批量测试结果；输出所述多颗充电管理芯片的批量测试结果。本发明提供的充电管理芯片的批量测试方法，可以提升生产效率和品质，有效的防止因芯片功能异常导致的损失；且该测试方法安全可靠，在测试中不会对芯片造成损坏。