一种用于识别ASm6A修饰的模型及其应用

本发明公开了一种用于识别ASm6A修饰的模型，所述模型基于待测样本的MeRIP‑seq测序数据，能够准确识别待测样本中的ASm6A修饰峰。本发明所述模型在识别待测样本中的ASm6A修饰峰时，无论使用何种待测样本的MeRIP‑seq测序数据，识别的错误率始终低于10％，说明本发明所述模型在识别样本的ASm6A修饰时，具有优异的稳定性，适用于识别样本在不同条件下的MeRIP‑seq测序数据。并且相较于现有识别ASm6A修饰的方法，利用本发明模型识别样本中的ASm6A修饰时的AUC值明显提高，识别效果明显更佳。