基于内存谱的失效根因隔离方法及装置

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基于内存谱的失效根因隔离方法及装置
申请号:CN202411737217
申请日期:2024-11-29
公开号:CN119201760B
公开日期:2025-03-18
类型:发明专利
摘要
本申请涉及计算机技术领域,特别涉及一种基于内存谱的失效根因隔离方法及装置,其中,方法包括:基于待测程序的可执行语句和测试用例集得到可执行语句的风险值,并基于满足一定风险条件的语句得到待测程序的至少一个断点;结合待测程序和失败测试用例集,获取待测程序在所有断点处的运行内存信息;基于运行内存信息得到每个失败测试用例对应的PMS和至少一对PMS对;将PMS对输入至训练后的孪生卷积神经网络中,以得到所有PMS对之间的相似性,并计算距离信息;进而确定待测程序的失效行为异同信息,基于失效行为异同信息隔离待测程序的失效根因。由此,解决了相关技术中,难以深层次地挖掘失效发生时程序的内部状态,难以被人类所直观理解等问题。
技术关键词
待测程序 测试用例集 内存 隔离方法 语句 距离信息 孪生神经网络 断点 风险 训练集 矩阵 图片 计算机程序产品 处理器 隔离模块 隔离装置 可读存储介质 存储器
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