一种芯片测试方法、系统、设备、存储介质及产品

本发明公开了一种芯片测试方法、系统、设备、存储介质及产品，所述方法包括：通过芯片自动测试设备获取待执行的测试命令，从目标动态链接库中调用函数将测试命令及测试命令对应的参数写入共享内存中；通过外挂仪表从共享内存中读取测试命令及测试命令对应的参数，根据测试命令及测试命令对应的参数执行测试操作并得到测试结果；通过外挂仪表从目标动态链接库中调用函数将测试结果写入共享内存中；通过芯片自动测试设备从共享内存中读取测试结果；其中，目标动态链接库预先导入芯片自动测试设备和外挂仪表中。本发明公开的芯片测试方法，通过共享内存进行数据传递，提高了测试效率，同时可以提高测试稳定性。