测试用例生成方法及装置、存储介质及电子设备

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测试用例生成方法及装置、存储介质及电子设备
申请号:CN202411749252
申请日期:2024-11-29
公开号:CN119597670A
公开日期:2025-03-11
类型:发明专利
摘要
本公开提供了一种测试用例生成方法及装置、存储介质及电子设备,涉及人工智能技术领域。该方法包括:获取敏捷工作项、测试需求信息和应用程序编辑接口信息作为背景知识;将背景知识和生成指令输入第一大模型,确定测试用例场景;响应于对测试用例场景的调整,将经过调整的测试用例场景和背景知识输入第二大模型,确定测试用例组;测试用例组中包括多个备选测试用例;第一大模型和第二大模型为经过训练并通过命令提示符封装得到的对话式大模型;响应于从测试用例组中选取目标测试用例并对目标测试用例进行编辑,确定输出测试用例。提升了测试用例生成的效率和质量。
技术关键词
测试用例关联 生成方法 生成指令 工作项 场景 编辑 测试用例生成装置 运维平台 接口 电子设备 处理器 人工智能技术 计算机程序产品 意图识别 分支 可读存储介质 格式 模块 节点
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