摘要
一种等值图生成方法、系统、终端设备以及存储介质,涉及半导体检测技术领域,方法包括:对待测件的多个预设测量点进行测量;初始化等值图的尺寸和阈值区间;对预设参考坐标系的二维平面进行网格划分,记录所有网格点的网格点数据;根据所有测量点数据,并采用并行计算模型或框架对每个网格点进行插值,得到每个网格点对应的计算值;根据等值图的尺寸创建等值图矩阵,将每个网格点数据中的计算值存入等值图矩阵中;采用并行计算模型或框架将等值图矩阵中的每个计算值与阈值区间进行比较,渲染为对应该颜色区间的颜色,生成对应的等值图。本申请通过在插值计算以及像素点渲染中均采用并行计算处理,可以提高等值图生成的效率。
技术关键词
网格
生成方法
测量点
矩阵
坐标系
数据
图像处理器
颜色
三次样条插值算法
框架
半导体检测技术
尺寸
双线性插值算法
像素
终端设备
生成系统
模块
中央处理器
系统为您推荐了相关专利信息
印刷电路板缺陷
像素矩阵
OTSU算法
判定方法
二值化阈值
动态分析方法
状态空间模型
时序
动态场景
更新模型参数