摘要
本申请提供了一种基于图像比对的印刷电路板缺陷判定方法及系统,根据本申请的方法包括:获取印刷电路板的彩色缺陷(Normal)图、紫外光缺陷(UV)图和生产资料标准(CAM)图并进行处理,利用处理后的Normal缺陷图和CAM图进行印刷电路板缺陷一次判定;联合一次判定结果和处理后的UV缺陷图进行印刷电路板缺陷二次判定,得到最终的印刷电路板缺陷判定结果。本申请利用模板匹配准确获取CAM标准图区域,通过计算和对比CAM标准图与UV缺陷图的像素值,有效解决了VRS中AI模型对无特征缺陷和稀有缺陷泛化能力低导致的漏识别问题,利用OTSU算法解决了在不同光照强度下二值化阈值通用性差的问题,并使用中值滤波去除冗余信息干扰,避免了图像噪点过多影响点位判定的问题。
技术关键词
印刷电路板缺陷
像素矩阵
OTSU算法
判定方法
二值化阈值
图像
模板
可读存储介质
判定系统
处理器
滤波
存储器
计算机
紫外光
电子设备
程序
冗余
模块
系统为您推荐了相关专利信息
钻杆接头
位置判定方法
井口
深度图数据
双目摄像机
神经网络识别模型
位置检测方法
转子
定子
图像采集模块
时空分布特征
判定方法
集成算法
集成学习方法
电机控制器
网络拥塞程度
信号传输线路
信号生成器
计算机网络通信技术
监测网络状态
状态判定方法
融合深度图像
进料
深度图像数据
彩色图像数据