芯片设计图案的校验方法和系统、智能终端、存储介质

本申请公开一种芯片设计图案的校验方法和系统、智能终端、存储介质，方法包括：识别芯片设计图案的每个图形；获取图形顶点在第一方向上与本图形其他边界的点的最小距离，得到各第一自身间距，获取每个图形的顶点在第一方向上与其他图形的最小距离，得到各第一紧邻间距；获取每个图形的顶点在第二方向上与本图形其他边界上的点的最小距离，得到各第二自身间距，获取每个图形的顶点在第二方向上与其他图形的最小距离，得到各第二紧邻间距；根据各第一自身间距和第二自身间距计算各自身最小尺寸；根据各第一紧邻间距和第二紧邻间距计算各图形与其他图形的图间最小间距；根据各自身最小尺寸和图间最小间距校验各图形。本申请可以对芯片图案快速校验。