SIC芯片及其制造方法

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SIC芯片及其制造方法
申请号:CN202411813993
申请日期:2024-12-11
公开号:CN119297158B
公开日期:2025-08-19
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种SIC芯片及其制造方法,属于半导体领域。该SIC芯片制造方法包括提供一SIC芯片,在通孔的内壁和底部沉积钝化层,且钝化层延伸至通孔周围的金属覆盖层;在钝化层的表面形成第一PI层,并填充通孔;在第一PI层表面形成第二PI层,其中,第一PI层和第二PI层胶性相反;在第二PI层表面形成塑封层,塑封层将第二PI层和金属覆盖层覆盖。本发明通过形成胶性相反的两层PI层。使用两层PI层,可以形成SIC芯片表面应力梯度结构,有效减少热循环过程中塑封料与SIC芯片之间的剪切应力,从而能够降低SIC芯片的边缘和拐角的剪切应力,进而能够避免SIC芯片与塑封料分层,以及SIC芯片开裂,进一步能够避免器件物理性质异常以及电性失效。
技术关键词
覆盖层 芯片 半导体 外延 有源区 填充通孔 多晶硅 热循环 拐角 分层 应力
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