一种RISC-V DSP芯片测试程序脚本优化方法、系统和存储介质

本发明提供了一种RISC‑V DSP芯片测试程序脚本优化方法、系统和存储介质，首先，根据第一次数信息对待测功能进行分组，从而将异常率较高的待测功能排在靠前的组别，从而减少异常芯片的测试时间；然后，根据第一配置模块信息对待测功能进行分组，相同的配置模块信息分配在同一组，减少模块切换或重新配置的时间；最后，根据第一功能模块信息对待测功能进行排序，减少输出接口切换和输出参数的配置时间，从而提高芯片功能级测试的效率。