一种像素级异常检测方法、装置、设备、介质及程序

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一种像素级异常检测方法、装置、设备、介质及程序
申请号:CN202411820822
申请日期:2024-12-11
公开号:CN119762776A
公开日期:2025-04-04
类型:发明专利
摘要
本公开涉及一种像素级异常检测方法、装置、设备、存储介质和计算机程序,方法包括:利用预设的提示编码模块提取所述输入图像的全局信息,利用预训练点的全向状态空间模型的残差全维动态卷积模块根据所述全局信息提取多尺度特征,利用所述提示编码模块根据所述多尺度特征生成最优提示,利用预训练的分割模型的编码模块对预先获取的输入图像进行特征提取,得到视觉特征,利用所述分割模型的解码模块根据所述视觉特征以及所述最优提示生成异常检测掩码。
技术关键词
状态空间模型 编码模块 神经网络模型 卷积模块 异常检测方法 解码模块 多尺度特征提取 视觉特征提取 异常检测装置 参数 动态 图像 计算机程序产品 像素 处理器 数据 计算机设备
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