一种基于改进YOLOv8的芯片表面缺陷检测方法及系统

本发明提供一种基于改进YOLOv8的芯片表面缺陷检测方法及系统。其方法包括以下步骤：(1)构建芯片表面缺陷图片数据集；(2)将得到的数据集划分成训练集、验证集和测试集；(3)构建改进的YOLOv8网络模型；(4)将数据集输入到改进后的YOLOv8网络模型进行训练和预测，得到包含表面缺陷的芯片图像。本发明改进后的YOLOv8模型通过DCNv4可变卷积能够识别不同形状和尺寸的缺陷，增强了网络的特征提取能力；使用Dysample上采样算子减少了缺陷边缘和细节信息的丢失，保留了更多的特征信息；使用MPDIOU边界损失函数替换原损失函数，加快网络训练的收敛速度，提高模型对缺陷的定位能力。相较于原模型，本发明的检测效果得到了改善，能够更好地应用于芯片表面缺陷检测任务中。