测试参数调测系统、方法、芯片测试设备和电子设备

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测试参数调测系统、方法、芯片测试设备和电子设备
申请号:CN202411825810
申请日期:2024-12-11
公开号:CN119667440A
公开日期:2025-03-21
类型:发明专利
摘要
本申请实施例公开了测试参数调测系统、方法、芯片测试设备和电子设备,系统包括:驱动链接模块、驱动服务模块和测试模块。驱动链接模块用于存储芯片测试设备中至少一个器件对应的各第一接口;驱动服务模块用于在接收到针对目标测试项的测试参数调整信息时,在驱动链接模块中调用第一目标接口,并控制第一目标接口将测试参数调整信息发送至目标器件;测试模块用于控制目标器件以测试参数调整信息执行目标测试项,并获取目标测试项对应的测试结果。由此实现了在芯片测试设备中直接对目标器件中测试参数信息进行调整,使测试模块可以根据测试参数调整信息进行测试,无需再向芯片测试设备重新上传调整后的测试参数信息,提高了测试参数的调整效率。
技术关键词
芯片测试设备 链接模块 测试模块 调测系统 接口 参数 测试头组件 调测方法 可视化交互界面 射频接收 板卡 编辑 电子设备 存储计算机程序 工控机 存储芯片 开关组件 信号
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