一种集成电路测试平台测试长时间内电流变化的方法

本发明提供一种集成电路测试平台测试长时间内电流变化的方法，涉及集成电路测试技术领域，其主要步骤为：将需要测试电流变化的时间段T分割为三段，其中第一段TS1的时长为t，取集成电路测试平台可兼容的测试向量最短时间值TS2为第二段并设置电流测试取样点，第三段TS3为T‑t‑TS2；将t初始值设置为0ns，以TS2为步进值，每次测试向量执行完成后将t增加TS2，进行循环操作，得到在整个时间T下每TS2时长采样点的电流测量值，在t增加到T，即循环测试完成后，便可得到在该时间段内芯片电流的变化情况。本发明可以提高测试向量方案的测试性能，可以得到原本测试方案下不容易得到的电流变化情况。