瑕疵检测方法、装置、计算机设备及存储介质

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瑕疵检测方法、装置、计算机设备及存储介质
申请号:CN202411845173
申请日期:2024-12-16
公开号:CN119312259B
公开日期:2025-07-18
类型:发明专利
摘要
本专利提出一种瑕疵检测方法、装置、计算机设备及存储介质,该方法包括:将工件训练样本的所有第二特征数据映射到图结构对应的节点上;根据预设随机游走规则在映射后的图结构中进行游走生成节点序列;获取节点序列中多个目标工件样本的第一向量表示;确定出多个目标工件样本中的任意两个目标工件样本之间的相同特征数据,并使相同特征数据的最小均方误差最小,以调整每个目标工件样本中的多个第二向量表示;将调整好的多个第二向量表示组成目标工件样本的新的第一向量表示,进行多轮迭代,得到工件瑕疵检测模型;通过工件瑕疵检测模型确定待检测工件样本是否存在瑕疵。本专利能够大大提高工件瑕疵检测准确性。
技术关键词
工件 样本 瑕疵检测方法 实时视频图像 节点 声学传感器 日志 振动传感器 序列 多光谱 计算机设备 瑕疵检测装置 模型训练模块 可读存储介质 数据获取模块
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