一种利用展源测量毫米波天线指向误差的方法

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一种利用展源测量毫米波天线指向误差的方法
申请号:CN202411853042
申请日期:2024-12-16
公开号:CN119652434B
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种利用展源测量毫米波天线指向误差的方法,包括:利用望远镜的毫米波天线对选择的校准源进行扫描,记录得到校准数据,所述校准源为展源;通过退卷积算法处理来自展源的校准数据,根据退卷积结果得到当前的方位轴、俯仰轴的指向误差角度。本发明的一种利用展源测量毫米波天线指向误差的方法通过退卷积算法和噪声抑制技术,有效解决了现有毫米波射电望远镜指向校准中精度不足的问题,显著提升了射电望远镜的校准精度,推动了高频段射电天文学观测的进展。
技术关键词
指向误差 扫描方法 校准 天线 卷积算法 射电望远镜 噪声抑制技术 射电天文学 亮度 噪声数据 信号 滤波 时间域 网格 精度 频段 太阳
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