平面度的确定方法、装置和存储介质

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平面度的确定方法、装置和存储介质
申请号:CN202411853473
申请日期:2024-12-16
公开号:CN119779199A
公开日期:2025-04-08
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种平面度的确定方法、装置和存储介质,涉及测量技术领域。该方法包括:获取电芯极柱的待测表面的第一模型数据,第一模型数据包括多个第一三角面片的三维坐标,多个第一三角面片拼合而成待测表面的三维模型;根据第一模型数据,确定待测表面的第一平面度,第一平面度用于指示待测表面与参考表面的距离差,从而提高测量电芯极柱表面的平面度的准确性。
技术关键词
待测表面 计算机可执行程序 平面度 面片 三维模型 电子设备 可读存储介质 坐标 立体光刻 数据 存储器 处理器 指令 Y轴 电芯 模块
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