一种基于小目标增强特征金字塔的PCB缺陷的检测方法

本发明公开了一种基于小目标增强特征金字塔的PCB缺陷的检测方法，步骤为：S1数据采集与处理：下载PCB缺陷数据集进行筛选，对筛选的图片进行数据处理，并将处理后的数据集，划分为训练集和验证集；S2构建并训练模型：构建改进的RT‑DETR‑R18模型并进行模型训练，得到改进的RT‑DETR‑R18模型的权重，再进行模型验证；S3检测并可视化：将验证后的模型部署到可视化界面进行PCB缺陷的实时检测。该方法采用改进的RT‑DETR‑R18模型算法，具有更高的准确性和鲁棒性；且改进后的网络结构也具有较强的硬件适配性和兼容性，可用于不同场景的PCB缺陷检测任务中。