摘要
本申请适用于半导体测试技术领域,提供了一种自动化测试设备的电流输出电路和方法,包括控制器、供电集成芯片和外设电路;供电集成芯片与外设电路连接,用于输出电流;外设电路与被测组件电连接,用于在导通时将输出电流加载至被测组件;控制器与外设电路通信连接,用于在目标电流值大于预设电流值时,控制采样芯片支路导通将供电集成芯片的输出电流加载至被测组件,目标电流值表示自动化测试设备向测试时的被测组件输入的电流值;控制器还用于在目标电流值小于或等于预设电流时,控制采样电阻支路导通,将供电集成芯片的输出电流加载至被测组件。通过本发明可以解决现有技术中自动化测试设备输出的电流并不能满足半导体测试高精度需求的问题。
技术关键词
自动化测试设备
集成芯片
电流输出电路
电流值
采样电阻
支路
控制开关
控制器
校准
参数
输出电流配置
电流输出方法
半导体测试技术
输入端
电压
理论
测试仪
系统为您推荐了相关专利信息
模型预测控制方法
滑膜观测器
逆变器系统
预测误差
误差函数
电流测试装置
测试误差
环境参数信息
误差预测
初始误差
性能数据预测方法
压敏电阻
重复性
半导体陶瓷
性能预测模型
SOC估算方法
卡尔曼滤波器
观测噪声
锂电池
协方差矩阵