一种芯片版图图案拓扑表示及热点检测方法

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一种芯片版图图案拓扑表示及热点检测方法
申请号:CN202411855892
申请日期:2024-12-17
公开号:CN119337794B
公开日期:2025-03-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种芯片版图图案拓扑表示及热点检测方法,步骤包括:将版图数据转换为二值图像数据保存;将版图数据中多边形转换为几何序列数据保存;将版图数据中多边形拓扑关系数据保存;构建基于对比学习的热点检测模型,根据保存的数据构建版图训练集和验证集,输入热点检测模型并进行模型训练;分别计算测试版图的热点几何序列表示和非热点几何序列表示,输入训练好的热点检测模型进行测试,得到热点几何序列和非热点几何序列的概率值,判断当前测试版图是否为热点。本发明方法通过序列化表示引入版图全局的拓扑表示信息,并结合对比学习,解决了传统监督学习在不平衡数据集上构建单一决策边界的问题。
技术关键词
测试版图 热点检测方法 多边形 版图图案 序列化特征 深度学习特征提取 图像 芯片 数据 多层感知机 处理器 存储装置 可读存储介质 程序 非线性 电子设备
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