芯片自动化测试装置

本发明涉及芯片自动化测试装置涉及芯片测试技术领域，包括侧边支撑机构，侧边支撑机构包括支撑机构和翻转夹持机构，且支撑机构和翻转夹持机构的夹持部位可调，本申请在使用时，利用支撑机构和翻转夹持机构的共同作用可以实现对测试芯片的夹持稳固，当需要对测试芯片的背面进行翻转检测时，仅仅需要将支撑机构的夹持部位从测试芯片上移开，将翻转夹持机构夹持在测试芯片的中间位置，实现对测试芯片的稳定夹持，随后利用翻转夹持机构实现对测试芯片的翻转，并且在翻转后，将支撑机构重新夹持在测试芯片上，实现对测试芯片的自动翻转，从而解决现有技术中测试芯片不能够轻易翻转的问题。