SPI NAND FLASH存储芯片的测试方法及测试设备

本申请提供一种SPI NAND FLASH存储芯片的测试方法及测试设备，该SPI NAND FLASH存储芯片的测试方法包括：根据用户输入的读取数据、写入数据和擦除数据的测试指令，按初始频率对SPI NAND FLASH存储芯片执行相应的读取、写入和擦除测试；根据测试结果调整所述初始频率并重新执行测试。本申请可以有效地测试NAND闪存的读取、写入、擦除在不同操作频率下的性能，还可以完全实现自动化，减少了人工参与，在降低成本的同时保证了测试效率，能很好地实现变频SPI NAND FLASH存储芯片的小批量测试验证。