一种芯片测试流程自动更新方法及系统

本发明公开了一种芯片测试流程自动更新方法及系统，通过自动化手段实现测试流程的动态更新、信息传递和参数校验，以解决现有测试流程管理的低效和错误率高的问题。本发明的核心是建立一个芯片测试流程自动更新系统，通过读取批次属性值，自动识别并配置适当的测试流程，减少人为操作干预。系统的流程涵盖了从批次信息获取、数据校验到自动化配置测试机台的全流程，并通过设计配置表实现了高效的信息匹配和更新。相比于现有技术，本发明中的自动化更新功能减少了测试流程的人为干预和重建，显著提升了测试效率；通过批次属性自动获取和自动配置，实现了测试流程的灵活管理，适应不同批次和产品的测试需求，提升了系统的适应性和扩展性。