VCSEL芯片测试方法及其系统

本申请提供了一种VCSEL芯片测试方法及其系统。VCSEL芯片测试方法，应用于多通道VCSEL芯片测试装置，多通道VCSEL芯片测试装置包括驱动测试板、运动模块和用于执行不同的测试项目的多个测试设备，驱动测试板包括多个测试孔位，各测试孔位分别用于连接对应的VCSEL芯片，以提供驱动信号至相连接的VCSEL芯片，运动模块分别与多个测试设备连接，用于带动相连接的测试设备移动至目标位置执行测试；VCSEL芯片测试方法包括：根据各VCSEL芯片对应的目标测试项目确定目标测试设备；根据各VCSEL芯片对应的目标测试孔位的孔位编号规划各目标测试设备的测试路线；目标测试孔位为连接有VCSEL芯片的测试孔位；控制运动模块依次带动各目标测试设备沿测试路线对VCSEL芯片进行测试。