基于ICD配置生成测试工装

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基于ICD配置生成测试工装
申请号:CN202411863949
申请日期:2024-12-18
公开号:CN119336563B
公开日期:2025-05-09
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于ICD配置生成测试工装,涉及ICD配置测试技术领域,为了解决ICD配置进行工装测试时,测试过程不够完善的问题。本发明通过利用传感器、日志记录器等监控设备,可以精确采集测试数据,减少了人为干预带来的误差,将分析后的实时数据以图文形式进行转换和呈现,使得测试结果更加直观易懂,实时数据分析时设置的警报机制能够在检测到异常或关键指标超出预设阈值时自动触发警报,从而及时提醒测试人员注意潜在问题,通过减少物理设备的依赖,降低了测试工装的硬件成本,自动化收集测试数据和日志提高了数据收集的全面性和准确性,对测试结果的分析和与预设测试工装结果的比对,使得测试评估更加客观和科学。
技术关键词
传感器 指标 测试环境搭建 日志记录器 测试工装结构 对象 测试设备 模拟单元 生成规则 监控设备 虚拟设备 通信接口卡 数据分析工具 解析单元 显示终端 接口标识符
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