半导体器件及其制造方法

AITNT
正文
推荐专利
半导体器件及其制造方法
申请号:CN202411865614
申请日期:2024-12-17
公开号:CN119673776A
公开日期:2025-03-21
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种半导体器件及其制造方法,包括:提供一基底,所述基底包括芯片区和位于所述芯片区周围的悬空区,所述悬空区对待连接至所述基底上超过所述基底上的所述芯片区的部分起支撑作用;在所述基底上形成介质层以及位于所述介质层内的布线层;其中,形成所述介质层前后或者同时,在所述悬空区形成第一凹槽,所述第一凹槽与位于所述芯片区的表面的高度差在设定规格内。本发明使得能够避免芯片区外侧新增的悬空区影响光刻工艺和平坦化工艺的稳定性。
技术关键词
半导体器件 基底 导电结构 介质 芯片 布线 平坦化工艺 凹槽 对准标记 光刻工艺 通孔
系统为您推荐了相关专利信息
1
用于聚合广告平台的监测方法、装置、设备及介质
广告 监测方法 平台 计算机可读指令 非暂时性计算机可读
2
一种多源计算任务合并处理方法、装置、设备及存储介质
分层聚类算法 字段 矩阵 策略 依存句法树
3
基于认知机制的人因可靠性分析方法及装置
可靠性分析方法 人因可靠性分析 可靠性分析模型 累积分布函数 操作规程
4
基于嵌入式Linux系统固件程序监护的方法及装置
网络监控摄像机 嵌入式Linux系统 子系统 固件 程序
5
基于复合传感器的边-云协同定位方法及系统
定位计算精度 协同定位方法 复合传感器 复杂度 调控模型
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号