一种Uv减粘膜的扩膜性能的测试方法

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正文
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一种Uv减粘膜的扩膜性能的测试方法
申请号:CN202411866040
申请日期:2024-12-18
公开号:CN119555521A
公开日期:2025-03-04
类型:发明专利
摘要
本发明涉及Uv减粘膜性能测试技术领域,具体涉及一种Uv减粘膜的扩膜性能的测试方法,本发明通过对尺寸变化率、黏性变化率和弹性变化率的测量与计算,能够从多个维度全面地评估UV减粘膜的扩膜性能,尺寸变化率反映了膜在扩膜过程中的拉伸程度和变形情况,有助于确定其在不同应用场景下的可扩展性;黏性变化率直观呈现扩膜操作对膜黏附力的影响,这对于涉及粘贴固定功能的应用至关重要,如在半导体芯片贴合工艺中,可确保扩膜后仍能保持合适的黏着力以保证芯片固定的可靠性;弹性变化率则揭示了膜在扩膜后恢复原始状态的能力,对于多次循环使用或需要保持形状稳定性的情况意义重大,能有效预测其在长期使用过程中的性能表现。
技术关键词
激光位移传感器 测试方法 拉力试验机 测试板 扩膜装置 测量点 UV减粘膜 性能测试技术 尺寸 标记 数据 半导体芯片 玻璃片 速度 公差 压力 坐标 场景
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