一种测试方法、装置、芯片以及存储介质

AITNT
正文
推荐专利
一种测试方法、装置、芯片以及存储介质
申请号:CN202411867028
申请日期:2024-12-18
公开号:CN119694233A
公开日期:2025-03-25
类型:发明专利
摘要
本发明涉及图像处理领域,提供一种测试方法、装置、芯片以及存储介质,该方法包括:获取至少一列子像素为测试列的第一图像数据;其中,所述测试列中的子像素亮度与非测试列中的子像素亮度不同;获取目标垂直分辨率;根据所述第一图像数据生成与目标垂直分辨率相同的第二图像数据;其中,所述第二图像数据中的测试列的数量以及列数与所述第一图像数据相同;将所述第二图像数据输出至显示屏进行显示。本申请中可以直接接收第一图像数据,生成第二图像数据至显示屏进行显示,无需人工生成测试图和外接测试盒对显示屏进行测试,节约了测试时间和测试成本。
技术关键词
分辨率 原始图像数据 像素 显示屏 测试方法 亮度 存储器 可读存储介质 芯片 先进先出 处理器通信 图像处理 计算机 指令
系统为您推荐了相关专利信息
1
一种用于半监督医学图像分割的傅里叶掩码和自适应阈值调整方法
医学图像分割 掩模 视觉推理技术 拉普拉斯 索引
2
基于全景成像的建筑工程多维度监测系统
监测系统 高分辨率摄像头 图像采集模块 远程监测平台 数据同步
3
海报元素布局生成方法、装置、设备及介质
布局生成方法 美学 多模态 分层特征 元素
4
环境感知方法、装置、电子设备及存储介质
分辨率 环境感知方法 计算机执行指令 智能设备 环境感知装置
5
具有图像预处理功能的图像处理系统及方法
图像处理系统 图像处理方法 计算机 图像像素 图像处理芯片
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号