一种碳化硅芯片抗辐照测试系统及其测试方法

本发明涉及碳化硅芯片技术领域，特别涉及一种碳化硅芯片抗辐照测试系统及其测试方法，包括传感器模块、数据收集处理模块、数据预测模块、预警与控制模块、通信模块、电源管理模块和安全保护模块，本发明通过传感器模块、数据收集处理模块、数据预测模块、预警与控制模块、通信模块、电源管理模块和安全保护模块的配合，能够实现自动化监控、快速响应和精确预警，满足不同领域对碳化硅芯片抗辐照性能测试的自动化需求；通过数据收集处理模块和数据预测模块的配合，利用数据收集与预处理、特征提取、模型选择与训练、模型评估、预测与异常检测，实现了对数据的准确预测和异常检测，为决策提供有力的支持。