基于RT-DETR改进的绝缘子缺陷检测方法及系统

本发明公开了基于RT‑DETR改进的绝缘子缺陷检测方法及系统，收集公开的绝缘子缺陷数据集以及通过视频截取帧获取图像作为数据集；基于目标检测模型RT‑DETR进行改进，将骨干网络改为StarNet星网络进行特征提取，并且进一步改进，将P5检测头移除，加入P2检测头，并且改进其中的星卷积模块；将多头注意力机制更改为部分自注意力机制PSA，并进一步改进，得到S‑PSA注意力机制模块；将RepC3卷积模块改进为RepMob卷积模块；将损失函数用Inner‑IoU与CIoU相结合，得到Inner‑CIoU损失函数进行损失计算；训练改进后的RT‑DETR，并且进行验证，得到最佳的权重，将该权重载入改进后的RT‑DETR中进行绝缘子缺陷检测。本发明使用基于RT‑DETR的改进来对绝缘子进行缺陷检测，使得检测更加精确高效。