一种基于地质勘探的深层土质取样方法

本发明公开了一种基于地质勘探的深层土质取样方法，涉及地质勘探技术领域。所述方法包括以下步骤：从地质勘探区域中，获取每个深度层的土质信息维度序列，其中，每个深度层对应一个土质参数值；基于每个深度层的土质参数之间的差异，得到每个深度层对土质特性的影响因子。本发明能够有效地获取不同深度层的土质信息，通过计算每个深度层对土质特性的影响因子和重要程度，调整初始聚类距离，最终得到优选聚类距离，合理设定邻域半径与最小样本数，使用密度聚类算法实现不同深度层的聚类操作，从而构建一个土质特性预测模型，准确预测不同深度层的土质特性，能够有效减少人工操作和时间成本，还能提高土质特性预测的准确性和可靠性。