芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质

本发明公开了一种芯片验证方法、装置及存储介质。该方法包括：预先配置验证框架中的SV语言的基类函数，所述基类函数用于描述验证流程；预先配置验证框架中的C语言程序，所述C语言程序用于执行处理器的硬件计算；通过所述SV语言的基类函数的虚函数获取测试循环次数和验证参数；在每个测试循环次数内，通过虚函数将所述验证参数写入到共享存储区域，通过所述共享存储区域将所述验证参数共享给C语言程序；所述C语言程序根据所述验证参数控制处理器硬件完成验证计算，将计算结果写入到所述共享存储区域。验证工程师能够遵循同一套标准编写测试用例，提高了芯片验证效率。