缺陷类别的检测方法和装置、电子设备和存储介质

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缺陷类别的检测方法和装置、电子设备和存储介质
申请号:CN202411880127
申请日期:2024-12-19
公开号:CN119723197A
公开日期:2025-03-28
类型:发明专利
摘要
本发明实施例提供了一种缺陷类别的检测方法和装置、电子设备和存储介质。缺陷类别的检测方法包括:获取目标对象的待检测图像;以及将待检测图像输入至训练好的分类模型中,以得到待检测图像针对其中的目标对象的缺陷的分类结果,分类模型包括依次连接的特征提取模块、卷积块注意力模块和后处理模块;特征提取模块用于提取待检测图像的第一特征;卷积块注意力模块用于对所接收的第一特征进行通道注意力计算和/或空间注意力计算,并根据计算结果确定第二特征;后处理模块用于对第二特征进行分类,以得到分类结果。可以准确的对目标对象的缺陷进行分类,避免误判,提高了对相似缺陷分类的精度。
技术关键词
缺陷类别 后处理模块 特征提取模块 计算机程序指令 层级 注意力模型 图像 对象 全局平均池化 电子设备 计算机程序产品 视觉 存储器 通道 处理器 尺寸
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