缺陷类别的检测方法和装置、电子设备和存储介质

AITNT
正文
推荐专利
缺陷类别的检测方法和装置、电子设备和存储介质
申请号:CN202411880127
申请日期:2024-12-19
公开号:CN119723197A
公开日期:2025-03-28
类型:发明专利
摘要
本发明实施例提供了一种缺陷类别的检测方法和装置、电子设备和存储介质。缺陷类别的检测方法包括:获取目标对象的待检测图像;以及将待检测图像输入至训练好的分类模型中,以得到待检测图像针对其中的目标对象的缺陷的分类结果,分类模型包括依次连接的特征提取模块、卷积块注意力模块和后处理模块;特征提取模块用于提取待检测图像的第一特征;卷积块注意力模块用于对所接收的第一特征进行通道注意力计算和/或空间注意力计算,并根据计算结果确定第二特征;后处理模块用于对第二特征进行分类,以得到分类结果。可以准确的对目标对象的缺陷进行分类,避免误判,提高了对相似缺陷分类的精度。
技术关键词
缺陷类别 后处理模块 特征提取模块 计算机程序指令 层级 注意力模型 图像 对象 全局平均池化 电子设备 计算机程序产品 视觉 存储器 通道 处理器 尺寸
系统为您推荐了相关专利信息
1
游戏中的控制方法、装置、电子设备及可读存储介质
图形用户界面 虚拟对象 显示交互控件 游戏地图 寻路系统
2
一种练字智能评价方法和装置
智能评价方法 文字特征 特征提取模型 计算机程序指令 图片
3
模型训练方法和装置、睡眠监测方法和装置以及电子设备
睡眠呼吸暂停 信号 多导睡眠监测 睡眠监测方法 计算机可读指令
4
配电网的故障响应方法、装置、设备及存储介质
故障恢复策略 故障响应方法 计算机执行指令 电网运行状态 神经网络模型
5
一种基于触觉传感器的机器人操作位姿控制方法及系统
机器人末端执行器 位姿控制方法 触觉特征 误差向量 姿态误差
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号