一种基于ATE测试平台的SNR测试方法、系统、介质及设备

本发明公开了一种基于ATE测试平台的SNR测试方法、系统、介质及设备，包括根据预设的欠采样算法，调整模拟信号的原始信号频率或者待测芯片的原始采样频率，并控制预设的信号发生器，输出模拟信号至待测芯片，以使得所述待测芯片对所述模拟信号进行欠采样，得到采样数据，并将所述采样数据转化成数字信号；根据ATE测试平台预设的信噪比计算算法，处理所述数字信号，得到信噪比测试结果，完成待测芯片的信噪比测试。本发明通过使用改进的欠采样算法，在模拟信号频率与采样频率不满足奈奎斯特采样定律的时候，调整模拟信号的频率或采样频率，可以有效减少频谱泄露，在无需使用窗函数的前提下，仍能进行信噪比测试，从而简化测试流程，提高测试效率。