一种多通道老化测试装置

本发明涉及电子工程技术领域，具体公开了一种多通道老化测试装置，包括箱体、安装支架、副板支架、副板、PCB安装板和主板，安装支架与箱体固定连接，并位于箱体的内部，两组PCB安装板分别与安装支架固定连接，并位于安装支架的上端，每组副板支架分别与安装支架固定连接，并位于安装支架的内侧，每组主板分别设置于对应的PCB安装板的上端，每组副板分别嵌设于对应的副板支架的内部。空间小，费用低，能主动调节高度、亮度、投图、控制功能，解锁功能，可以大大节省老化柜中控制盒和通讯盒占用的空间，同时降低设备成本，可以通过监测老化过程中测试LOG实时了解老化状态。