一种存储系统I/O路径跟踪及故障测试方法和系统及设备

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一种存储系统I/O路径跟踪及故障测试方法和系统及设备
申请号:CN202411887733
申请日期:2024-12-20
公开号:CN119645713A
公开日期:2025-03-18
类型:发明专利
摘要
本申请涉及存储故障检测技术领域,提供一种存储系统I/O路径跟踪及故障测试方法和系统及设备,包括:通过客户端生成测试文件,将生成的测试文件作为测试I/O写入存储集群;通过关键服务存储写入的测试I/O,在关键服务入口跟踪和采集测试I/O流入信息;通过客户端收集测试I/O流入信息,根据收集的测试I/O流入信息制定故障决策,根据制定的故障决策向存储集群中注入故障;判断注入故障的存储集群是否能够自恢复,根据判断结果决策是否进行下一轮故障注入。本申请可以自动采集信息交给客户端决策故障点,测试存储系统在面对故障时的鲁棒性,精准识别和解决存储系统中存在的弱点,提升存储系统的容错性和可恢复性。
技术关键词
存储集群 故障测试方法 存储服务器 客户端 决策 测试存储系统 故障测试系统 入口 带标记 计算机设备 存储故障 哈希算法 模式 处理器 标志位 存储器 鲁棒性 周期性
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