一种适用于轻量化芯片设计的验证设备

本发明公开了一种适用于轻量化芯片设计的验证设备，包括高性能逻辑资源芯片、高灵活性FPGA控制器和上位机，所述高性能逻辑资源芯片包含了2586KSystem Logic Cells、2364K CLB Flip‑Flops、1182K CLB LUTs、36.1Mb Dist RAM、75.9Mb Block RAM、270Mb Ultra RAM、6840DSP Slices，同时具备高密度、高速收发器作为数据传输接口，高灵活性FPGA控制器包含软核系统与逻辑系统。该发明模块化硬件设计框架，允许通过增加或更换子卡来扩展芯片验证设备的功能，适合轻量化芯片设计以及验证的解决方案，覆盖整个芯片设计以及验证的开发周期，设备成本友好，适合大规模量产使用，芯片验证维修成本友好。