一种双面散热的MOS结构及其封装工艺

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一种双面散热的MOS结构及其封装工艺
申请号:CN202411891147
申请日期:2024-12-20
公开号:CN119673782A
公开日期:2025-03-21
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种双面散热的MOS结构及其封装工艺,一种双面散热的MOS结构封装工艺,包括以下步骤:芯片包封:芯片背面朝上倒装在粘接膜上,将芯片完全包封,研磨包封面直至暴露出芯片背面;外引脚电镀:在暴露的芯片背面和研磨后的包封面上电镀多个焊盘,并继续在每个焊盘表面电镀外引脚,继续包封焊盘和外引脚,并研磨暴露出外引脚底面,芯片背面热量从焊盘传递至外引脚后散发;芯片正面电镀:剥离粘接膜,在芯片正面电镀金属柱A,包封并研磨包封面直至暴露出金属柱A的顶面;本发明通过在芯片的背面和正面通过层层包封、研磨以及电镀等工艺形成MOS器件构成双面散热的封装结构,散热效果好,散热效率高。
技术关键词
重布线层 芯片 结构封装 包封 封面 双面 焊盘表面 封装体 散热片 封装工艺 正面 粘接膜 MOS器件 蚀刻 电镀工艺 封装结构
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