电容阈值的测试方法、装置及电子设备

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电容阈值的测试方法、装置及电子设备
申请号:CN202411893726
申请日期:2024-12-20
公开号:CN119763648B
公开日期:2025-09-30
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种电容阈值的测试方法、装置及电子设备,应用于与固态硬盘连接的上位机,固态硬盘包括依次连接的控制器和电容模块;方法包括:发送第一命令至所述控制器,以使控制器按照初始的第一预设放电时长控制电容模块放电,放电后控制固态硬盘下电,当达到下机状态的情况下,对固态硬盘的数据进行校验,以判断固态硬盘的数据是否完整,然后从初始的第一预设放电时长开始,按照下降趋势或上升趋势调整初始的第一预设放电时长,直至确定目标第一预设放电时长;根据目标第一预设放电时长对应的电容模块的剩余容值和预先获取的电容模块的偏差值,判断电容阈值是否能够保证固态硬盘的数据完整,该方式可以降低测试成本、提高效率和便捷性。
技术关键词
电容模块 命令 数据 控制器 测试方法 控制开关 电源芯片 判断固态硬盘 控制固态硬盘 偏差 电子设备 处理器 校验模块 软件 电压 时间差 存储器
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