一种便于多角度识别的芯片自动测试设备

本发明涉及芯片测试设备技术领域，尤其涉及一种便于多角度识别的芯片自动测试设备，包括视觉检测装置、平面调节装置、角度调节装置和控制器；平面调节装置上安装有待检测平台，平面调节装置用于在X轴方向和Y轴方向上对待检测平台进行平面调节，待检测平台用于放置待检测芯片；角度调节装置上安装有视觉检测装置，角度调节装置用于在Z轴方向上对视觉检测装置进行角度调节，视觉检测装置用于识别成像和检测定位；控制器分别与视觉检测装置、平面调节装置和角度调节装置电连接，控制器用于根据视觉检测装置反馈的信号对角度调节装置和平面调节装置进行调整。本发明能够实现对芯片的多角度、高精度检测，同时提高测试效率、稳定性和准确性。