一种芯片自动化测试的数据分析方法和系统

本发明涉及数据分析技术领域，提出一种芯片自动化测试的数据分析方法和系统，包括步骤S1：获取待测试芯片的测试数据；S2：根据所述测试数据与对应的芯片的预设数值进行比较，若比较结果为合格，则执行步骤S4，若比较结果为不合格，则执行步骤S3；S3：对所述测试数据进行分析，生成第一分析结果，根据所述第一分析结果提出解决措施，执行步骤S4；S4：根据预设芯片参数识别所述待测试芯片的测试数据的异同点，并进行表现分析，生成第二分析结果；S5：将所述第二分析结果存入所述芯片数据库中，以实现对芯片测试结果进行准确且有效的分析，减小人为分析所产生的误差，对分析数据的整理，为以后的数据分析供重要的数据支持。