调试装置、方法及电子设备

本公开涉及芯片技术领域，提出一种调试装置、方法及电子设备。调试装置包括第一接口和第二接口，第一接口用于连接数据处理装置的显示接口，显示接口包括热插拔检测通道和辅助通道，第二接口用于连接上位机，调试装置用于在第一接口连接到显示接口时向热插拔检测通道输出第一信号，第一信号用于使数据处理装置在热插拔检测通道处检测到第一信号时对调试装置进行认证，在认证通过后进入调试模式，并通过辅助通道将与调试相关的信息输出至调试装置；调试装置还用于将接收到的信息输出至上位机。使用本公开实施例的调试装置对数据处理装置进行调试，可以降低数据泄露风险，简化调试环境搭建，提高调试效果。